Full resolution (JPEG) - On this page / på denna sida - Interferens - Interferensmottagning - Interferensspektroskopi - Interferometer
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
Below is the raw OCR text
from the above scanned image.
Do you see an error? Proofread the page now!
Här nedan syns maskintolkade texten från faksimilbilden ovan.
Ser du något fel? Korrekturläs sidan nu!
This page has never been proofread. / Denna sida har aldrig korrekturlästs.
79
Interferensmottagning—Interferometer
80
Fig. 4. Schematisk teckning av
Youngs interferensförsök.
S
Fig. 5. Schematisk teckning av
Fresnels spegelförsök.
Fig. 6. Schematisk teckning av
Fresnels biprisma.
Fig. 7 (t. v.). Interferensfenomen
i en glasplatta.
Fig. 8. Newtons ringar;
anordning för iakttagande av
interfe-rensringarna i såväl
genomgående som reflekterat ljus. Si och
Sa skärmar, Pi, Ps och Ps linser.
la Lj i två under
icke fullt 1800
vinkel mot varandra
lutande speglar (Si
och S2). En annan
i.-metod av Fresnel
åskådliggöres av
fig. 6. Dess
väsentliga del är ett
dubbelprisma (F r e
s-n e 1 s b i p r i s-
ma), i vilket ljus, utgående från en belyst
öppning i skärmen A, sammanbrytes. De streckade
områdena i fig. 5 och 6 ange de rum, vari
i.-fe-nomen uppträda. Bland övriga anordningar,
grundade på samma princip, må nämnas L 1 0 y d s
försök och
arrangemang med
halvlinser av
B i 11 e t och
M e s 1 i n. —
I.-f enomen av annat
slag uppträda, då
en och samma
ljusstråle vid
gränsytan mellan
två medier
uppdelas i en
reflekterad och en
bruten stråle, vilka
sedan bringas att
interferera.
Sålunda uppkomma,
om en ljusstråle
SA (fig. 7)
infaller mot en
plan-parallell glasplatta, såväl i det re
flekterade som i
det genomgående
ljuset i.-fenomen, om strålarna AC, A’C o. s. v.,
resp. BD, B’D’ o. s. v. sammanbrytas med en lins.
I det reflekterade ljuset t. ex. bestämmes i.
väsentligen av fasdifferensen mellan strålarna AC
och A’C’, i det att intensiteten av de följ,
strålarna snabbt avtar. Denna fasdifferens mätes av
skillnaden mellan antalet våglängder, som falla
på sträckan ABA’ och på sträckan AE, och
beror således utom
av våglängden av
plåttjockleken och
infallsvinkeln. De
färgspel, som
uppstå i tunna
lameller och hinnor,
och de s. k. n e
w-tonska ringarna, som kunna
iakttagas kring
beröringspunk-
ten mellan en
glasplatta och en
konvex lins (fig
8), bero på detta
el. närliggande
fenomen. Dessa i.-ringar karakteriseras som
kurvor för lika tjocklek i motsats till det
i.-fenomen, som kan iakttagas i en planparallell
platta med på oändligt avstånd ackommoderat
öga, s. k. kurvor för lika lutning.
Sådana observerades först av Haidinger (1849).
— Kännedomen om i.-fenomen, som väsentligen
utvecklades i början av 1800-talet, gav det
avgörande beviset för ljusets vågnatur och gjorde
det även möjligt att bestämma ljusets våglängd.
Praktisk användning har ljusets i. fått bl. a. för
ytterst noggrann längdmätning och för
undersökning av ytor och plattor på planhet och
plan-parallellitet. En apparat, som grundar sig på
användning av i.-fenomen, kallas en
interferometer. — Litt.: O. Klein, ”Vad vi veta om
ljuset” (i ”Natur och kultur”, 41—42, 2 bd,
1925).
Interferensmottagning, radiotekn., metoden att
vid radiotelegrafering med ”CW” {continuous
waves) göra tecknen hörbara genom att en i
mottagaren anordnad oscillator är inställd på en
närliggande frekvens; mottagarens detektor
återger härvid skillnads frekvensen, som inställes för
bästa hörbarhet. Vid telegrafering med ”MCW”
(modulated continuous waves’) är redan den
utgående signalen modulerad med en hörbar
frekvens, varför i. ej kommer i fråga. Se vidare
Heterodynmottagare.
Interferensspektroskopi, spektroskopi, som
grundar sig på användning av ljusets interferens
för att sönderdela mångfärgat ljus i dess
beståndsdelar. Apparater för detta ändamål kallas
interf erometr ar.
Interferometer, apparat, grundad på
användning av ljusets interferens. Vid Michelsons
i får ljus infalla under 450 vinkel mot en
halvgenomskinligt försilvrad glasplatta P (se fig.).
En del av ljuset
reflekteras av P och
infaller vinkelrätt mot
planspegeln Si, den
andra delen brytes i P och
infaller därpå vinkelrätt
mot planspegel S2. Båda
strålarna återkastas
således i sig själva och
träffa åter P, varvid
de ånyo uppdelas. De
delar, som därvid
brytas, resp, reflekteras i
riktningen F,
interferera, och interferensfeno-
menet iakttages i kikaren K. Med denna
apparat lyckades Michelson först tills, m. Morley,
senare med Benoit med oerhört stor noggrannhet
bestämma längden av normalmetern, uttryckt i
våglängder av tre starka linjer i
kadmiumspektrum. En analog anordning använde
Michelson och Morley för att undersöka, om ljuset
fortplantar sig med samma hastighet i den
riktning, vari jorden rör sig i sin bana, som i en
riktning vinkelrät däremot. I Fabry och
Pero t s i. iakttagas interferenskurvor för lika
lutning (se Interferens) vid en exakt planparallell
Schematisk teckning av
Michelsons
interferometer.
<< prev. page << föreg. sida << >> nästa sida >> next page >>
